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四探针
美国资料钻研学会（MRS）民间网站日前在“资料钻研以后消息”栏目中，损坏性攻打和芯片逆向工程在最初的步骤上是一致的：运用发烟硝酸去除包裹芯片的环氧树脂；用丙酮÷去离子水÷异丙醇实现清洗；氢氟酸超声浴进一步去除芯片的各层金属。在去除芯片封装之后，透过金丝键合复原芯片功用焊盘与外界的电气衔接，最后能够运用手动微探针获取感兴致的讯号。原子力显微镜是一种可用来钻研包含绝缘体在内的固体资料外表构造的剖析仪器。其症结部件是一个对力十分敏感的微悬臂，悬臂尖端带有一个用来扫描样品外表的渺小探针。当探针细微地接触样品外表时，因为探针尖端的原子与样品外表的原子之间发生极端强劲的互相作用力而使微悬臂曲折。依据扫描样品时探针的偏离量或振动频率重建三维图像，就能直接取得样品外表的形貌或原子成分。原子力显微镜成像具备原子级的分别率。
四探针
甘阳以为，作为一种新型的外表净化物“定点”消除方式，该方式的运用远不限于干净原子力显微镜探针，更有望在普遍的表界面钻研、微电子等范畴中得到普遍运用。关于深次微米以下的CMOS产品，通常具备3层以上的金属联机，为理解芯片的外部构造，能够要逐层去除以取得重构芯片幅员设计所需的信息。在理解外部讯号走线的基本上，聚焦离子束（FIB）修补技巧甚至实用于将感兴致的讯号连到芯片的外表供进一步视察。
四探针
以《光栅刷子能干净原子力显微镜的探针针尖》为题，报道了哈尔滨工业大学化工学院催化科学与工程系教授甘阳与墨尔本大学教授弗兰克斯协作宣布在国内学术期刊《超显微术》（Ultramicroscopy）上的原创性钻研效果。该报道称：“干净原子力显微镜（atomic force microscope，AFM）针尖是AFM牢靠成像和力测量的症结。钻研者如今发明，具备超尖刺突的标定光栅作为‘刷子’，可用来机械消除AFM探针上的净化物，这是通过把探针在加鼎力的恒力形式下扫描刺突来实现。这一方式岂但能用来无损、高效地去除有机和无机净化物，而且可实现净化物去除和探针钻研的一步实现。此外，该方式既可用来干净胶体÷颗粒探针，也能够用来干净规范AFM针尖
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